Anasayfa / Laboratuvar Cihazları / Uçuş Zamanlı-İkincil İyon Kütle Spektrometresi (TOF-SIMS)

Uçuş Zamanlı-İkincil İyon Kütle Spektrometresi (TOF-SIMS)

ucus zamanli ikincil iyon kutle spektrometresi tof sims - Uçuş Zamanlı-İkincil İyon Kütle Spektrometresi (TOF-SIMS)

İkincil iyon kütle spectroskopisi (secondary ion mass spectroscopy, SIMS), numuneleri birkaç keV enerjili odaklanmış birincil iyon ışını ile püskürtülüp, numunelerin yüzeyinden yayılan ikincil iyonları analiz ederek katı yüzeyler hakkında elementel ve moleküler bilgi elde edinilmesini sağlayan çok hassas yüzey analitik tekniğidir. Yüzeyden yayılan ikincil iyonlar uçuş zamanlı kütle spektrometresiyle analiz edilir. Yüksek vakum ortamında çalışan ikincil iyon kütle spectroskopisi (secondary ion mass spectroscopy, SIMS), katılarda birkaç mikrometre derinliğe kadar olan element, izotop ve moleküllerin analiz edilmesinde kullanılır. Bu teknikte, iyon kaynaklarından elde edilen birkaç kilo elektrovolt enerjili oksijen (O) veya sezyum (Cs) iyonları uygun voltaj altında hızlandırılarak, araştırılacak örnek yüzeyine püskürtülmek üzere odaklanmış bir iyon demeti oluştururlar. Bu birincil iyon demetinin örnek yüzeyine çarpmasıyla yüzeyden sıçratılan ikincil iyonlar, kütlelerine dolayısıyla detektöre varış sürelerine göre (ağır kütleliler daha yavaş yol alırlar) ToF-SIMS’de analiz edilirler.

Ne İşe Yarar Uçuş Zamanlı-İkincil İyon Kütle Spektrometresi (TOF-SIMS)?

– Bütün element ve izotop tesbiti

– Moleküler ve demet iyonlarından kimyasal bilgi

Yorumlar

Okumanızı Öneriyoruz

kryoskop 310x165 - Kryoskop

Kryoskop

PDF OLARAK İNDİR Çiğ sütteki su miktarını ölçmek için yaygın olarak kullanılan donma noktası (kryoskop) …

Bir Cevap Yazın

LinkedIn Auto Publish Powered By : XYZScripts.com