Tagged: Atomik Ölçekte Kazınmış Desenler

Basit Bir Yöntem ile Atomik Ölçekte Kazınmış Desenler

Fotoğraf : Tek bir silikon atomu tabakası (siyah), bir tarama (prob)mikroskobunun hareketli silika ucuna bağlanır. Silikon plakalar üzerinde nano ölçekli özellikleri aşındırma için hassas, kimyasal-ücretsiz bir yöntem Penn State ve Güney Batı Jiaotong Üniversitesi ve Çin Tsinghua Üniversitesi’nden bir ekip tarafından geliştirilmiştir. Standart litografide, bir silikon plaka üzerine ışığa duyarlı bir...

WP Twitter Auto Publish Powered By : XYZScripts.com
Kopyalamak Yasaktır!