Kumaş Liflerini Tanımlamak İçin Yeni Adli Teknikler
Suç mahalli müfettişleri, yakında kötüleri yakalamak için yeni bir araç bulabilirler. Araştırmacılar, yeni bir adli bilim tekniğinin kumaşın tek tek liflerini tanımlama ilkesinin kanıtını gösterdiler.
‘’ Beyaz pamuk lifleri çok yaygındır ve cinayet mahallilerinde adli bilim adamları tarafından büyük oranda görmezden gelinen az görsel ayırt edici özelliklere sahiptirler.’’ Dedi Thermo Fisher Scientific bilim adamı Brian Strohmeier. Fakat bugünün kumaşlarının çoğu, liflerin yüzeyinde benzersiz organik kimyasallar bırakan çeşitli üretim ve işleme süreçleri geçirdi.Örneğin, lekeye karşı dayanıklı, suya dayanıklı veya demir içermeyen kumaşlar üretildi. Böylece, adli bilim adamları, tek tek liflerin yüzeyindeki kimyasal imzayı analiz ederek, örneğin, olay mahallerinde bulunan kumaş delillerinin kökenini tespit edebilirler.
Strohmeier, bu çalışmayı 27 Ekim – 1 Kasım 2013 tarihlerinde düzenlenen AVS 60. Uluslararası Kaliforniya Long Beach Sempozyumu ve Sergisinde açıkladı.
Yeni yöntemde, kendisi ve meslektaşları, X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) adlı iyi bilinen bir tekniği kullandılar. XPS’de, test örneği odaklanmış bir X ışını ile hücum eder ve numunenin yüzeyinden elektronlar koparır.Daha sonra bir dedektör elektronları sayar ve kinetik enerjilerini ölçer. Ortaya çıkan spektrum, yüzeyin kimyasal imzasını ortaya çıkarmaktadır.
‘’Kimyasal kaplamaya sahip olmayan tekstil liflerinin yüzeylerini karakterize etmek için XPS daha önce kullanılmıştır. Ancak, işlenmiş liflerin yüzey kimyasını incelemek için, araştırmacılar daha derinlere gitmeli ve yüzeyin hemen altındaki katmanları analiz etmeliyiz.’’ Dedi Strohmeier. Bunu yapmak için, araştırmacılar numune elyafının üzerine bir miktar argon-iyon kümeleri ateşledi. Işın, lifin yüzeyinde sığ bir delik açtı ve altındaki tabakayı açığa vurdu. Her küme binlerce atom içerir ve kümeler çarpma sonucu ayrılırlar, ölçülen kimyasallara fazla zarar vermezler.
Altta yatan katmanın ortaya çıkmasıyla, araştırmacılar kimyasal içeriğini incelemek için XPS’i kullandı. Numuneyi ışınla daha uzun süre patlatarak, araştırmacılar analiz için daha derin katmanlar kazıyabilir.
Bu teknikle, araştırmacılar farklı imalat süreçlerinin sonucu olan yüzey kimyasına dayalı tekstil materyallerini tespit edebildi. Ayrıca farklı kimyasal muameleler geçirmiş fakat aynı şekilde özdeş olan malzemeleri ayırt edebildiler.
‘’ Daha önce, XPS adli bilimlerde çok fazla kullanılmamıştı. Adli bilimler alanında XPS yöntemleri için kabul gören bir standart yoktu.Her bir numuneyi analiz etmek genellikle zaman aldı ve teknik olarak nispeten büyük örnekler gerektiriyordu.Ayrıca XPS enstrümanları diğer adli bilim araçlarından çok daha pahalıydı. Ancak XPS enstrümanları şimdi analizin dakikalar sürdüğü ve sadece onlarca ila yüzlerce kare mikron örnek alana ihtiyaç duyulduğu noktaya gelindi. Ve son birkaç yıl içinde, argon iyon küme ışın teknolojisi, araştırmacıların gösterdiği gibi derin profil analizleri yapabildi.’’ Dedi Brian Strohmeier.
Brian Strohmeier son olarak şunları ekledi;’’ Bu yeni sonuçlar henüz adli bilimler için doğru yol gösterici bir teknik oluşturmazken, olay yerinde toplanan diğer kanıtların yüzeylerini ve lifleri analiz etmek için büyük potansiyel göstermektedir.’’
Kaynak : sciencedaily.com
